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zeiss革新的去(ct扫描)散射伪影技术，让铝压铸件的缺陷检测更精确

zeiss scattercontrol 能够显著提升图像质量，将 ct 扫描的散射伪影降至最低限度。
结果表明：试样的局部孔隙率、最大孔洞和孔洞位置等特征参量均会影响局部应变分布和断裂位置。
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